F40-UV
Messen Sie Schichten, die nur 4nm dünn sind
Mit dem F40-UV können Sie Schichten messen, die nur 4nm dünn sind, und das auf einem Messpunkt von nur 7 Mikrometer Größe.
Zum Lieferumfang gehört ein UV Mikroskop und eine integrierte Farbvideokamera, sodass der Messpunkt exakt eingestellt und überwacht werden kann. Die Schichtdicke und der Brechungsindex können in weniger als einer Sekunde gemessen werden. Wie alle unsere tischbasierten Messgeräte wird das F40-UV mit dem USB-Anschluss eines Windows™ Computer verbunden und ist innerhalb weniger Minuten einsetzbar.
Lieferumfang:
- Integrierte Spektrometer-/Lichtquellen-Einheit
- FILMeasure 8 Software
- MA-Cmount Mikroskopadapter mit C-Mount-Gewinde
- Glasfaser-Patch-Kabel
- BK7 Referenz-Material
- TS-Focus-SiO2-4-10000 Focus-/Schichtdickenstandard
- BG-Mikroskop (für die Messung einer Untergrund-Baseline)
- FILMeasure Standalone Software (für geräteunabhängige Datenanalyse)
Modellspezifikationen
| Modell | Schichtdickenbereich* | Wellenlängenbereich |
|---|---|---|
| F40-UV | 4nm-40µm | 190-1100nm |
| F40-UVX | 4nm-40µm | 190-1700nm |
Zusätzliche Vorteile:
- Datenbank mit über 130 Materialien im Lieferumfang jedes Systems enthalten, dazu Zugang zu hunderten weiteren.
- Applikationsingenieure sind 24 Stunden (Mo-Fr) für direkten Support verfügbar
- Interaktiver Online-Support (Internetverbindung erforderlich)
- Hardware Upgrade Programm
