Solaranwendungen

Dünnschichtphotovoltaikmessungen

Dünnschicht-Photovoltaik

Dünnschicht-Photovoltaik (TFPVs) wird als eine kostengünstige Alternative zu monokristallinen Photovoltaikmodulen entwickelt. Hauptkategorien von TFPVs werden nach den Komponenten ihrer aktiven Schicht benannt: Dünnes Silizium, II-VI (hauptsächlich CdTe) und CIGS (Kupfer Indium Gallium Disulfid). In jedem Fall besteht das Modul aus einer aktiven Schicht und einer transparenten leitfähigen Metalloxid-Zwischenschicht (TCO) auf einer Trägerschicht (normalerweise Glas oder Metall).

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Messung von aktiven Schichten

Die richtige Schichtdicke und Zusammensetzung von aktiven Schichten ist wichtig. Eine zu dünne Schicht beeinträchtigt die Leistung und Haltbarkeit, eine zu dicke führt zu erhöhten Herstellungskosten. Eine falsche Zusammensetzung kann die Leistungsfähigkeit und Ausbeute der Solarzelle drastisch verringern.

Filmetrics F20 Schichtdickenmessgeräte werden von zahlreichen TFPV Herstellern benutzt, um die Dicke und die Zusammensetzung aller drei Arten von aktiven Schichten zu messen. Für die Schichtdickenmessung von aktiven Schichten auf TCO bietet Filmetrics eine breite Erfahrung bei der Charakterisierung von Einzel- oder Mehrschicht-TCO-Anordnungen, unabhängig davon, ob sie aus der eigenen Produktion im Hause oder von Glaslieferanten stammen.

Andere Prozessschichten

Neben aktiven Schichten und TCO Stacks gibt es noch andere Schichten, die oft für die Herstellung von TFPVs benötigt werden. Beispiele sind Polyimide und Lacke, die benötigt werden, um Zellen und Elektroden zu definieren und auch Anti-Reflexionsbeschichtungen aufzubringen. Für jede dieser Applikationen hat Filmetrics ein Tabletop, Mapping, oder ein In-Line System verfügbar.

Um Ihre Photovoltaikanwendung zu diskutieren kontaktieren Sie bitte unsere Dünnschichtexperten. Filmetrics bietet Ihnen kostenlose Testmessungen ihrer Proben - Ergebnisse sind typischerweise innerhalb von 1-2 Tagen verfügbar.

Anwendungsbeispiel

Die Möglichkeit schnell und verlässlich Mehrschichtsysteme zu messen ist kritisch für die Entwicklung und Herstellung von Dünnschichtsolarzellen. In diesem Beispiel messen wir sowohl die Pufferschicht (CdS) als auch die Absorberschicht (CdTe) auf einem Dünnschichtsolarelement. Mit Hilfe des F20-NIR und einem Spezialtisch mit kollimiertem Lichtstrahl können wir ein Reflektionsspektrum messen und die Dicke sowohl der CdTe- als auch der CdS-Schichten auf einer CdTe-basierten Solarzelle auf TEC Glas bestimmen.

Messaufbau:

Benutztes Rezept:

Messergebnis: