Siliziumwafer und -membrane

Filmetrics bietet Tabletop, Mapping und In-situ Schichtdickenmessgeräte an, die die Messung von Siliziumwafern und Membranen im Schichtdickebereich von 1nm bis 2mm ermöglichen.

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Kontaktieren Sie unsere Dünnschichtexperten, um mit Ihnen Ihre Schichtdickemessungen bezüglich Si-Wafern und Membranen zu besprechen.

Filmetrics bietet Ihnen kostenlose Testmessungen an – Ergebnisse liegen typischerweise innerhalb von 1 – 2 Tagen vor.

*Bereich ist abhängig vom Modell, des optionalen Zubehörs und dem zu messenden Material
Schichtdickenbereich* Anwendung Produktreihe
5µm - 1mm Punktmessung F3-sX
1nm - 200µm Punktmessung F20
0,1µm - 2mm Punktmessung F70-NIR
3nm - 1mm Schichtdickenmapping F50
1nm - 1mm Kassette-zu-Kassette F60-c