Anwendungen der Schichtdickenmessung

Anwendungen zum Thema ""

• Amorphes & Polysilizium

  Messen Sie die Dicke, die Kristallinität, n und k von allen Formen von amorphem und polykristallinem Silizium.

• CMP

  Unsere F80 Schichtdickenmessgeräte sind für die Messung von Oxiden, STI und metallischen CMP Prozessen entwickelt worden.

• Dielektrika

  Filmetrics hat Instrumente auf Lager, die in der gesamten Industrie dielektrische Schichten messen.

• Glas & Plastik-Dickemessungen

  Messen Sie die Dicke von Glas und Plastikmaterialien bis zu einer Dicke von 13mm.

• Dicke von Hardcoats

  Filmetrics Systeme werden in der Automobildindustrie eingesetzt, um die Schichtdicke von Hardcoat und Primern zu bestimmen.

• IC Fehleranalyse

  Das F20-XT wird von der Chipindustrie eingesetzt, um das rückseitige Ausdünnen von Silizium zu messen.

• ITO & andere TCOs

  Geschützte Analysealgorithmen ermöglichen die Messung der Schichtdicke von TCO, des Index und des Absorptionskoeffizienten mit nur einem Mausklick.

• Medizinische Hilfsmittel

  Messen Sie die Dicke angioplastischer Ballons, Stents und Implantatbeschichtungen sowie viele andere.

• Schichtdicke von Metallen

  Messen Sie die Schichtdicke, den Brechungsindex und Absorptionskoeffizienten von Metallschichen mit einer Dicke von bis zu 50nm.

• OLEDs

  Messen Sie die Schichtdicke und den Brechungsindex von NPB, AlQ3, PEDOT, P3HT, Teflon, etc…

• Ophthalmische Beschichtungen

  Benutzen Sie das F10-AR um die Reflektivität und die Farbe zu messen, zusätzlich ist es möglich die Schichtdicke von AR- und Hardcoat-Beschichtungen zu messen.

• OSP/Cu Oberflächenbehandlung

  Organische Lötschutzbeschichtungen werden mit dem F42, einem zweidimensionalen Mappingsystem gemessen.

• Parylenbeschichtungen

  Legen Sie Ihre mit Parylen beschichteten Proben einfach auf den Probentisch des F10-PA um die Schichtdicke zu messen!

• Photolacke

  Wir haben bereits dutzende Photolacke gemessen und können Datensätze mit Brechungsindexdaten für beliebige Photolacke generieren.

• Poröses Silizium

  Messen Sie die Schichtdicke, Porösität, den Brechungsindex und k von porösen Siliziumschichten.

• Funktionale Beschichtungen

  Filmetrics bietet eine breite Palette an Produkten für die Messung von funktionalen Halbleiterbeschichtungen an.

• Brechungsindex & k

  Messen Sie den Brechungsindex und den Absorptionskoeffizienten über einen Wellenlängenbereich von maximal 200-1700nm.

• Siliziumwafer und -membrane

  Wir bieten Tischsysteme, Mappingsysteme und Systeme für Produktionsreihen an, die Silizium bis zu einer Dicke von 2mm messen können.

• Solaranwendungen

  Messen Sie CdTe, CdS, CIGS, amorphes Si, TCOs, Antireflexbeschichtungen (AR) und mehr...

• Lehrlabore für Halbleitertechnik

  Mehr als fünfzig F20-Systeme von Filmetrics sind an universitäre Lehrlabore ausgeliefert worden.

• Bandbeschichtungen

  Systeme von Filmetrics werden häufig in der Polymerindustrie eingesetzt um in-line Schichtdicken zu messen.